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Solution of Inverse Problems in Electromagnetic NDT Using Neural Networks
Ayad A., Benhamida F., Bensetti M., Le Bihan Y., Bendaoud A.
Przeglad Elektrotechniczny 2011, 9a (2011) 330-333 [hal-00712479 - version 1]
Using COMSOL-Multiphysics in Eddy Current Non Destructive Testing Context
Santandréa L., Le Bihan Y.
Dans Proceedings of COMSOL CONFERENCE PARIS - COMSOL CONFERENCE PARIS, France (2010) [hal-00557541 - version 1]
A contribution to connect non-conform meshes with overlapping finite elements
Zaidi H., Santandréa L., Krebs G., Le Bihan Y.
Dans Proceedings of IGTE - IGTE 2010, Autriche (2010) [hal-00555710 - version 1]
Partial Least Square Regression for Quantitative Evaluation of Small Anomalies in Non-Destructive Testing
Le Bihan Y., Marchand C., Pavo J., Krebs G.
Dans Proceedings of Conference on Electromagnetic Field Computation (CEFC 2010) - CEFC 2010, États-Unis (2010) [hal-00555707 - version 1]
Comparison of two methods for modeling thin regions in eddy current non-destructive testing
Ospina Vargas A., Zaidi H., Santandréa L., Krebs G., Le Bihan Y.
Dans Proceedings of the 14th Biennial IEEE Conference on Electromagnetic Field Computation - CEFC 2010, États-Unis (2010) [hal-00555709 - version 1]
Overlapping finite elements used to connect non-conforming meshes in 3D with a vector potential formulation
Krebs G., Henneron T., Clenet S., Le Bihan Y.
Dans Proceedings of Conference on Electromagnetic Field Computation (CEFC 2010) - CEFC 2010, États-Unis (2010) [hal-00555706 - version 1]
Microwave Characterization using Ridge Polynomial Neural Networks and Least-Square Support Vector Machines
Hacib T., Le Bihan Y., Meyer O., Pichon L.
Dans Proceedings of 14th IEEE Conference on Electromagnetic Field Computation - 14th IEEE Conference on Electromagnetic Field Computation, États-Unis (2010) [hal-00555264 - version 1]
Utilisation des machines à vecteurs supports LSSVM pour la mesure des propriétés diélectriques de matériaux
Hacib T., Le Bihan Y., Acikgoz H., Meyer O.
Dans Actes des 11èmes Journées de Caractérisation Microondes et Matériaux - 11èmes Journées de Caractérisation Microondes et Matériaux, France (2010) [hal-00555267 - version 1]
Modeling of thin structures in eddy current testing with shell elements
Ospina Vargas A., Santandréa L., Le Bihan Y., Marchand C.
The European Physical Journal Applied Physics 52, 2 (2010) 23303-23308 [hal-00555697 - version 1]
Support vector machines for measuring dielectric properties of materials
Hacib T., Acikgoz H., Le Bihan Y., Mekideche M. R., Meyer O., Pichon L.
COMPEL 29, 4 (2010) 1081-1089 [hal-00555259 - version 1]