HAL : hal-00710780, version 1

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26th EU PVSEC, Hambourg : Allemagne (2011)

Coil-to-sample distance influence on contactless QSSPC effective lifetime measurements : application to silicon wafers passivated by thin amorphous layers

Wilfried Favre 1, Laroussi Bettaieb 1, J. Després, José Alvarez 1, Jean-Paul Kleider 1, Yann Le Bihan 1, Zakaria Djebbour 1, Denis Mencaraglia 1

(09/2011)

1 :	Laboratoire de génie électrique de Paris (LGEP)
	CNRS : UMR8507 – Université Paris XI - Paris Sud – Université Pierre et Marie Curie [UPMC] - Paris VI – SUPELEC

Équipe de recherche : SCM - Equipe Semiconducteurs en Couches Minces COCODI - Equipe Conception, Commande et Diagnostic

hal-00710780, version 1

http://hal-supelec.archives-ouvertes.fr/hal-00710780

oai:hal-supelec.archives-ouvertes.fr:hal-00710780

Contributeur : Olivier Schneegans <>

Déposé pour le compte de : Olivier Schneegans <>

Soumis le : Jeudi 21 Juin 2012, 15:53:51

Dernière modification le : Mercredi 18 Juillet 2012, 15:17:17