Communication Dans Un Congrès
Année : 2006
Chahla Domenget : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00146961
Soumis le : mardi 15 mai 2007-15:43:53
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:48
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00146961 , version 1
Citer
T. Contaret, T. Boutchacha, G. Ghibaudo, F. Bœuf, T. Skotniki. Drain and Gate Current Low Frequency Noise in Biaxially Strained Siliconn-MOSFETs with Ultrathin Gate Oxides. ULIS conference, 2006, Grenoble, France. pp.XX. ⟨hal-00146961⟩
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