Communication Dans Un Congrès
Année : 2006
Chahla Domenget : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00147141
Soumis le : mercredi 16 mai 2007-09:02:43
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:09:54
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00147141 , version 1
Citer
M. Rafik, G. Ribes, G. Ghibaudo. New insight on Stress Induced Leakage Current on SiO2/HfO2 stack. XX, 2006, XX, France. pp.XX. ⟨hal-00147141⟩
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