Communication Dans Un Congrès
Année : 2006
Chahla Domenget : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00147157
Soumis le : mercredi 16 mai 2007-09:22:28
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:09:55
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00147157 , version 1
Citer
L. Zafari, J. Jomaah, G. Ghibaudo. Impact of Film Thickness on LF Noise in SOI Devices. International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM 2006), 2006, Japan, Japan. pp.XX. ⟨hal-00147157⟩
57
Consultations
0
Téléchargements