De-embedding technique for S-parameter measurements under high RF power, coupled to thermal imaging - FMNT - Fédération Micro- et Nano- Technologies Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2006

De-embedding technique for S-parameter measurements under high RF power, coupled to thermal imaging

B. Ivira
  • Fonction : Auteur
F. Ndagijimana
  • Fonction : Auteur
Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique
R.Y. Fillit
  • Fonction : Auteur

Domaines

Autre [cond-mat.other] Traitement du signal et de l'image [eess.SP] Micro et nanotechnologies/Microélectronique Electromagnétisme Traitement du signal et de l'image [eess.SP]

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https://hal.science/hal-00147965

Soumis le : lundi 21 mai 2007-14:28:04

Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-18:25:47

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00147965 , version 1 (21-05-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00147965 , version 1

Citer

B. Ivira, F. Ndagijimana, R.Y. Fillit. De-embedding technique for S-parameter measurements under high RF power, coupled to thermal imaging. IEEE ARFTG conference 2006 (MTT-S), 2006, San Francisco, United States. pp.XX. ⟨hal-00147965⟩

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