Coaxial Probe Fixture Used for Complex Permittivity Measurement of Thin Layers - FMNT - Fédération Micro- et Nano- Technologies Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2006

Coaxial Probe Fixture Used for Complex Permittivity Measurement of Thin Layers

F. Ndagijimana
  • Fonction : Auteur
Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique
J. Chilo
  • Fonction : Auteur
P. Saguet
  • Fonction : Auteur

Domaines

Traitement du signal et de l'image [eess.SP] Micro et nanotechnologies/Microélectronique Electromagnétisme Traitement du signal et de l'image [eess.SP]

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https://hal.science/hal-00147967

Soumis le : lundi 21 mai 2007-14:30:16

Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-20:56:42

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00147967 , version 1 (21-05-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00147967 , version 1

Citer

F. Ndagijimana, J. Chilo, P. Saguet. Coaxial Probe Fixture Used for Complex Permittivity Measurement of Thin Layers. International Conference on Micro and Nanotechnologies (ICMNT-2006), 2006, Alger, Algeria. pp.XX. ⟨hal-00147967⟩

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