A Coaxial Probe Fixture Used for Extracting Complex Permittivity of Thin Layers - FMNT - Fédération Micro- et Nano- Technologies Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2006

A Coaxial Probe Fixture Used for Extracting Complex Permittivity of Thin Layers

M. Moukanda
  • Fonction : Auteur
F. Ndagijimana
  • Fonction : Auteur
Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique
J. Chilo
  • Fonction : Auteur
P. Saguet
  • Fonction : Auteur

Domaines

Traitement du signal et de l'image [eess.SP] Micro et nanotechnologies/Microélectronique Electromagnétisme Traitement du signal et de l'image [eess.SP]

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https://hal.science/hal-00147974

Soumis le : lundi 21 mai 2007-14:35:11

Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-18:25:47

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00147974 , version 1 (21-05-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00147974 , version 1

Citer

M. Moukanda, F. Ndagijimana, J. Chilo, P. Saguet. A Coaxial Probe Fixture Used for Extracting Complex Permittivity of Thin Layers. WAMICON (IEEE Wireless and Microwave Conférence), 2006, ClearWater FL, United States. pp.XX. ⟨hal-00147974⟩

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