Détermination expérimentale de la variation de la masse de conductivité des électrons dans un transistor MOS sous contrainte uniaxiale selon [110] - FMNT - Fédération Micro- et Nano- Technologies Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2006

Détermination expérimentale de la variation de la masse de conductivité des électrons dans un transistor MOS sous contrainte uniaxiale selon [110]

F. Rochette
  • Fonction : Auteur
M. Cassé
Département d'Astrophysique, de physique des Particules, de physique Nucléaire et de l'Instrumentation Associée
M. Mouis
Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique
G. Reimbold
  • Fonction : Auteur
F. Boulanger
  • Fonction : Auteur

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal.science/hal-00148274

Soumis le : mardi 22 mai 2007-10:44:55

Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:16:30

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00148274 , version 1 (22-05-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00148274 , version 1

Citer

F. Rochette, M. Cassé, M. Mouis, G. Reimbold, F. Boulanger. Détermination expérimentale de la variation de la masse de conductivité des électrons dans un transistor MOS sous contrainte uniaxiale selon [110]. Journées "Simulation et caractérisation des nanocomposants" du GDR Nanoélectronique, 2006, GRENOBLE, France. pp.XX. ⟨hal-00148274⟩

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