Review of Radiation Effects in Single and Multiple-Gate SOI MOSFETs - FMNT - Fédération Micro- et Nano- Technologies Accéder directement au contenu
Chapitre D'ouvrage Année : 2005

Review of Radiation Effects in Single and Multiple-Gate SOI MOSFETs

S. Cristoloveanu
Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal.science/hal-00148988

Soumis le : jeudi 24 mai 2007-08:54:31

Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:18:28

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Dates et versions

hal-00148988 , version 1 (24-05-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00148988 , version 1

Citer

S. Cristoloveanu. Review of Radiation Effects in Single and Multiple-Gate SOI MOSFETs. Review of Radiation Effects in Single and Multiple-Gate SOI MOSFETs, Kluwer Academic Publishers, pp.197-214, 2005. ⟨hal-00148988⟩

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