Communication Dans Un Congrès
Année : 2008
Marielle Clot : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00397016
Soumis le : vendredi 19 juin 2009-13:00:57
Dernière modification le : lundi 12 février 2024-15:17:46
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00397016 , version 1
Citer
C. Vallee, P. Gonon, F. El Kamel, E. Gourvest, Myrtil L. Kahn, et al.. Influence of Oxygen Vacancies on the Nonlinear Behavior of High-k MIM Capacitors. Proceedings of the 15th Workshop on Dielectrics in Microelectronics, WODIM 2008, 2008, Germany. ⟨hal-00397016⟩
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