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Article Dans Une Revue Solid-State Electronics Année : 2009

DC and Low Frequency Noise Characterization of FinFET Devices

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https://hal.science/hal-00596176

Soumis le : jeudi 26 mai 2011-16:22:41

Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:05:11

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Dates et versions

hal-00596176 , version 1 (26-05-2011)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00596176 , version 1

Citer

K. Bennamane, T. Boutchacha, G. Ghibaudo, M. Mouis, N. Collaert. DC and Low Frequency Noise Characterization of FinFET Devices. Solid-State Electronics, 2009, 53, pp.1263-1267. ⟨hal-00596176⟩

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