Diagnosis of low-frequency noise sources in contact resistance of staggered organic transistors - FMNT - Fédération Micro- et Nano- Technologies Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Applied Physics Letters Année : 2011

Diagnosis of low-frequency noise sources in contact resistance of staggered organic transistors

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Autre [cond-mat.other] Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal.science/hal-00596188

Soumis le : jeudi 26 mai 2011-16:34:22

Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-20:49:56

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00596188 , version 1 (26-05-2011)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00596188 , version 1

Citer

Y. Xu, T. Minari, T. Kazuito, R. Gwoziecki, F. Balestra, et al.. Diagnosis of low-frequency noise sources in contact resistance of staggered organic transistors. Applied Physics Letters, 2011, 98, pp.033505. ⟨hal-00596188⟩

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