Characterization, modelling and simulation of Sub-45nm SOI devices - FMNT - Fédération Micro- et Nano- Technologies Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2009
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00603670 , version 1 (27-06-2011)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00603670 , version 1

Citer

N. Rodriguez, F. Gámiz, S. Cristoloveanu. Characterization, modelling and simulation of Sub-45nm SOI devices. International Semiconductor Conference, Oct 2009, Sinaia, Romania. pp.57-63. ⟨hal-00603670⟩
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