Ion-Ioff performance analysis of FDSOI MOSFETs with low processing temperature

Cuiqin Xu , P. Batude , C. Rauer , C. Le Royer , L. Hutin (1) , A. Pouydebasque , B. Previtali , M. Mouis (2) , M. Vinet (1)

1 CEA-LETI - Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information
2 IMEP-LAHC - Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation

Domaines: Autre [cond-mat.other]

Cuiqin Xu, P. Batude, C. Rauer, C. Le Royer, L. Hutin, et al.. Ion-Ioff performance analysis of FDSOI MOSFETs with low processing temperature. Solid-State Devices Meeting, Sep 2010, tokyo, Japan. ⟨hal-00604646⟩