Une nouvelle méthode AFM pour caractériser les propriétés piézoélectriques de nanostructures : Application pour la récupération d'énergie à partir de nanofils - FMNT - Fédération Micro- et Nano- Technologies Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2010

Une nouvelle méthode AFM pour caractériser les propriétés piézoélectriques de nanostructures : Application pour la récupération d'énergie à partir de nanofils

R. Hinchet
  • Fonction : Auteur
X. Xu
  • Fonction : Auteur
J.W Lee
  • Fonction : Auteur
B. Bercu
  • Fonction : Auteur
A. Potie
  • Fonction : Auteur
Laboratoire des technologies de la microélectronique
T. Baron
Laboratoire des technologies de la microélectronique
B. Salem
Laboratoire des technologies de la microélectronique
Rudeesun Songmuang
Nanophysique et Semiconducteurs
G. Ardila
L. Montés
  • Fonction : Auteur
M. Mouis
Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal.science/hal-00604965

Soumis le : jeudi 30 juin 2011-10:53:41

Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-20:52:27

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Dates et versions

hal-00604965 , version 1 (30-06-2011)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00604965 , version 1

Citer

R. Hinchet, X. Xu, J.W Lee, B. Bercu, A. Potie, et al.. Une nouvelle méthode AFM pour caractériser les propriétés piézoélectriques de nanostructures : Application pour la récupération d'énergie à partir de nanofils. Journées Nationales sur la récupération et le stockage d'énergie pour l'alimentation des microsystèmes autonomes,, Oct 2010, Paris, France. ⟨hal-00604965⟩

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