Angstrom Level Resolution Etch - FMNT - Fédération Micro- et Nano- Technologies Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2011

Angstrom Level Resolution Etch

T. Lill
  • Fonction : Auteur
S. Banna
  • Fonction : Auteur
A. Agarwal
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00625350 , version 1 (21-09-2011)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00625350 , version 1

Citer

T. Lill, O. Joubert, Maxime Darnon, S. Banna, A. Agarwal. Angstrom Level Resolution Etch. China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC), Mar 2011, Shanghaï, China. ⟨hal-00625350⟩
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