Communication Dans Un Congrès
Année : 2011
Marielle Clot : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00634167
Soumis le : jeudi 20 octobre 2011-14:53:40
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:17:16
Dates et versions
Licence
Identifiants
- HAL Id : hal-00634167 , version 1
Citer
C. Mannequin, P. Gonon, C. Vallee, V. Jousseaume, H. Grampeix. Electrical Instabilities of HfO2 Metal-insulator-metal Devices Under DC and AC Voltage Stresses. Materials for Advanced Technologies (ICMAT), Jun 2011, Singapour, Singapore. ⟨hal-00634167⟩
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