Mass spectrometry as tool for plasma etching charactérization - FMNT - Fédération Micro- et Nano- Technologies Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2000
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00685135 , version 1 (04-04-2012)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00685135 , version 1

Citer

G. Cunge, J. Foucher, D. Fuard, L. Vallier, O. Joubert, et al.. Mass spectrometry as tool for plasma etching charactérization. XV europhysics conference on atomic and molecular physics of ionised gases, Aug 2000, Miskolc, Hungary. ⟨hal-00685135⟩
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