RC Model for Frequency Dependence of Split C-V Measurements on Bare SOI Wafers - FMNT - Fédération Micro- et Nano- Technologies

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Article Dans Une Revue IEEE Electron Device Letters Année : 2013

RC Model for Frequency Dependence of Split C-V Measurements on Bare SOI Wafers

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A. Diab

Fonction : Auteur

Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation

I. Ionica

Fonction : Auteur
PersonId : 170880
IdHAL : irina-ionica
IdRef : 108496651

Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation

G. Ghibaudo

Fonction : Auteur
PersonId : 170596
IdHAL : gerard-ghibaudo
ORCID : 0000-0001-9901-0679
IdRef : 069253099

Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation

S. Cristoloveanu

Fonction : Auteur
PersonId : 172108
IdHAL : sorin-cristoloveanu
ORCID : 0000-0002-3576-5586
IdRef : 030493188

Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Brigitte Rasolofoniaina : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00994383

Soumis le : mercredi 21 mai 2014-14:01:02

Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-20:56:35

Dates et versions

hal-00994383 , version 1 (21-05-2014)

Identifiants

HAL Id : hal-00994383 , version 1
DOI : 10.1109/LED.2013.2257663

Citer

A. Diab, I. Ionica, G. Ghibaudo, S. Cristoloveanu. RC Model for Frequency Dependence of Split C-V Measurements on Bare SOI Wafers. IEEE Electron Device Letters, 2013, 34 (6), pp.792-794. ⟨10.1109/LED.2013.2257663⟩. ⟨hal-00994383⟩

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