Article Dans Une Revue
Japanese Journal of Applied Physics
Année : 2013
Brigitte Rasolofoniaina : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01017529
Soumis le : mercredi 2 juillet 2014-16:25:25
Dernière modification le : mardi 23 janvier 2024-15:27:09
Citer
D.S. Kim, S.J. Chang, C.J. Lee, Y. Bae, S. Cristoloveanu, et al.. Performance of GaN Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor with Regrown n(+)-Source/Drain on a Selectively Etched GaN. Japanese Journal of Applied Physics, 2013, 52 (6), pp.061001. ⟨10.7567/JJAP.52.061001⟩. ⟨hal-01017529⟩
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