Instantaneous frequency measurement for IR-UWB signal in CMOS 130 nm

A. Goavec; Remy Vauche; Jean Gaubert; F. Hameau; M. Zarudniev; Eric Mercier

doi:10.1109/ICECS.2016.7841156

Communication Dans Un Congrès Année : 2016

Instantaneous frequency measurement for IR-UWB signal in CMOS 130 nm

, (1) , (1) , , ,

1

A. Goavec

Fonction : Auteur

Remy Vauche

Fonction : Auteur
PersonId : 18287
IdHAL : remy-vauche
ORCID : 0000-0002-0082-6916
IdRef : 159179246

Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence

Jean Gaubert

Fonction : Auteur
PersonId : 172806
IdHAL : jean-gaubert

Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence

F. Hameau

Fonction : Auteur

M. Zarudniev

Fonction : Auteur

Eric Mercier

Fonction : Auteur
PersonId : 762009
IdRef : 092385028

Domaines

Electronique

Fichier principal

Soumission_ICECS_2016.pdf (871.98 Ko)

Origine : Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

Pascal XAVIER : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-02022303

Soumis le : jeudi 6 janvier 2022-14:36:38

Dernière modification le : mardi 5 décembre 2023-18:08:07

Archivage à long terme le : jeudi 7 avril 2022-19:27:30

Dates et versions

hal-02022303 , version 1 (06-01-2022)

Identifiants

HAL Id : hal-02022303 , version 1
DOI : 10.1109/ICECS.2016.7841156

Citer

A. Goavec, Remy Vauche, Jean Gaubert, F. Hameau, M. Zarudniev, et al.. Instantaneous frequency measurement for IR-UWB signal in CMOS 130 nm. 2016 IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS), Dec 2016, Monte Carlo, Monaco. pp.157-160, ⟨10.1109/ICECS.2016.7841156⟩. ⟨hal-02022303⟩

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