Lithiation of pure and methylated amorphous silicon: Monitoring by operando optical microscopy and ex situ atomic force microscopy - Département de physique Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Electrochimica Acta Année : 2019

Lithiation of pure and methylated amorphous silicon: Monitoring by operando optical microscopy and ex situ atomic force microscopy

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hal-02380443 , version 1 (22-10-2021)

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Paternité - Pas d'utilisation commerciale

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Yue Feng, Thuy-Doan-Trang Ngo, Marianthi Panagopoulou, Abdelhak Cheriet, Bon Min Koo, et al.. Lithiation of pure and methylated amorphous silicon: Monitoring by operando optical microscopy and ex situ atomic force microscopy. Electrochimica Acta, 2019, 302, pp.249-258. ⟨10.1016/j.electacta.2019.02.016⟩. ⟨hal-02380443⟩
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