José Alvarez, Jean-Paul Kleider, Frédéric Houzé, Pascal Chrétien, M. Liao, et al.. Mesures locales de photoconductivité par AFM à pointe conductrice sur des dispositifs métal-semiconducteur-métal à base de diamant.
Réunion Annuelle VEECO des Utilisateurs d'AFM, 2006, France.
⟨hal-00320320⟩