Microscopie à Force Atomique à Pointe Conductrice : carctérisations électriques et modifications physico-chimiques de matériaux par un instrument en développement

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https://hal-supelec.archives-ouvertes.fr/hal-00320403
Contributor : Olivier Schneegans <>
Submitted on : Wednesday, September 10, 2008 - 6:27:34 PM
Last modification on : Thursday, November 22, 2018 - 2:26:48 PM

Identifiers

  • HAL Id : hal-00320403, version 1

Citation

Olivier Schneegans. Microscopie à Force Atomique à Pointe Conductrice : carctérisations électriques et modifications physico-chimiques de matériaux par un instrument en développement. 2007. ⟨hal-00320403⟩

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