Electrical characterization of ITO/CuPc/Al diodes using temperature dependent capacitance spectroscopy and I-V measurements

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Journal of Non-Crystalline Solids, Elsevier, 2004, 338-340, pp.599-602
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Contributeur : Olivier Schneegans <>
Soumis le : jeudi 11 septembre 2008 - 18:04:02
Dernière modification le : vendredi 19 janvier 2018 - 15:04:06

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  • HAL Id : hal-00320881, version 1

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F.T. Reis, Denis Mencaraglia, Sidi Ould Saad, Isabelle Seguy, M. Oukachmih, et al.. Electrical characterization of ITO/CuPc/Al diodes using temperature dependent capacitance spectroscopy and I-V measurements. Journal of Non-Crystalline Solids, Elsevier, 2004, 338-340, pp.599-602. 〈hal-00320881〉

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