Analysis of the steady states photocarrier grating method for the determination of the density of states in semiconductors - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Physical Review B: Condensed Matter and Materials Physics (1998-2015) Année : 2005

Analysis of the steady states photocarrier grating method for the determination of the density of states in semiconductors

J.A. Schmidt
  • Fonction : Auteur
Christophe Longeaud
Laboratoire de génie électrique de Paris

Olivier Schneegans  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://centralesupelec.hal.science/hal-00321240

Soumis le : vendredi 12 septembre 2008-16:11:43

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:50

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00321240 , version 1 (12-09-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00321240 , version 1

Citer

J.A. Schmidt, Christophe Longeaud. Analysis of the steady states photocarrier grating method for the determination of the density of states in semiconductors. Physical Review B: Condensed Matter and Materials Physics (1998-2015), 2005, 71, pp.125208. ⟨hal-00321240⟩

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