Caractérisation d'interface de hétérojonctions a-Si:H/c-Si par spectroscopie de capacité sous polarisation directe

Alexander Gudovskikh 1 Jean-Paul Kleider 1 J. Damon-Lacoste Pere Roca I Cabarrocas Y. Veschetti P.J. Ribeyron
1 LGEP - Laboratoire de génie électrique de Paris
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Conference papers
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Contributor : Olivier Schneegans <>
Submitted on : Monday, September 15, 2008 - 12:04:18 PM
Last modification on : Friday, November 16, 2018 - 2:03:54 AM

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  • HAL Id : hal-00321554, version 1

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SUPELEC | UPMC | SUP_LGEP | SORBONNE-UNIVERSITE

Citation

Alexander Gudovskikh, Jean-Paul Kleider, J. Damon-Lacoste, Pere Roca I Cabarrocas, Y. Veschetti, et al.. Caractérisation d'interface de hétérojonctions a-Si:H/c-Si par spectroscopie de capacité sous polarisation directe. Séminaire ADEME-CEA-CNRS, 2005, France. ⟨hal-00321554⟩

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