Caractérisation d'interface de hétérojonctions a-Si:H/c-Si par spectroscopie de capacité sous polarisation directe

Alexander Gudovskikh; Jean-Paul Kleider; J. Damon-Lacoste; Pere Roca I Cabarrocas; Y. Veschetti; P.J. Ribeyron

Conference papers

Caractérisation d'interface de hétérojonctions a-Si:H/c-Si par spectroscopie de capacité sous polarisation directe

Alexander Gudovskikh ¹ Jean-Paul Kleider ¹ J. Damon-Lacoste Pere Roca I Cabarrocas Y. Veschetti P.J. Ribeyron

1 LGEP - Laboratoire de génie électrique de Paris

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Conference papers

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https://hal-supelec.archives-ouvertes.fr/hal-00321554
Contributor : Olivier Schneegans <>
Submitted on : Monday, September 15, 2008 - 12:04:18 PM
Last modification on : Wednesday, September 16, 2020 - 4:41:51 PM

Caractérisation d'interface de hétérojonctions a-Si:H/c-Si par spectroscopie de capacité sous polarisation directe

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