Alexander Gudovskikh, Jean-Paul Kleider, J. Damon-Lacoste, Pere Roca I Cabarrocas, Y. Veschetti, et al.. Caractérisation d'interface de hétérojonctions a-Si:H/c-Si par spectroscopie de capacité sous polarisation directe.
Séminaire ADEME-CEA-CNRS, 2005, France.
⟨hal-00321554⟩