Photoconductivity measurements used to determine the defect density within the gap of intrinsic semiconductors - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2005

Photoconductivity measurements used to determine the defect density within the gap of intrinsic semiconductors

J.A. Schmidt
  • Fonction : Auteur
Christophe Longeaud
Laboratoire de génie électrique de Paris
R.R. Koropecki
  • Fonction : Auteur
R. Arce
  • Fonction : Auteur

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https://centralesupelec.hal.science/hal-00321562

Soumis le : lundi 15 septembre 2008-12:15:22

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:50

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00321562 , version 1 (15-09-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00321562 , version 1

Citer

J.A. Schmidt, Christophe Longeaud, R.R. Koropecki, R. Arce. Photoconductivity measurements used to determine the defect density within the gap of intrinsic semiconductors. Hyperfine Interaction at La Plata, 2005, Argentina. ⟨hal-00321562⟩

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