New approach to capacitance spectroscopy for interface characterization of a-Si:H/c-Si heterojunctions - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2005

New approach to capacitance spectroscopy for interface characterization of a-Si:H/c-Si heterojunctions

Alexander Gudovskikh
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de génie électrique de Paris
Jean-Paul Kleider
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
R. Stangl
  • Fonction : Auteur

Olivier Schneegans  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://centralesupelec.hal.science/hal-00321574

Soumis le : lundi 15 septembre 2008-12:39:12

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:50

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00321574 , version 1 (15-09-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00321574 , version 1

Citer

Alexander Gudovskikh, Jean-Paul Kleider, R. Stangl. New approach to capacitance spectroscopy for interface characterization of a-Si:H/c-Si heterojunctions. 21st International Conference on Amorphous and Nanocrystalline Semiconductors, 2005, Portugal. ⟨hal-00321574⟩

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