Determination of band offsets in a-Si:H/c-Si heterojunctions from capacitance-voltage measurements: capabilities and limits - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Thin Solid Films Année : 2007

Determination of band offsets in a-Si:H/c-Si heterojunctions from capacitance-voltage measurements: capabilities and limits

A.S. Gudovskikh
  • Fonction : Auteur
Samah Ibrahim
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de génie électrique de Paris
Jean-Paul Kleider
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
J. Damon-Lacoste
  • Fonction : Auteur
Pere Roca I Cabarrocas
Y. Veschetti
  • Fonction : Auteur
P.J. Ribeyron
  • Fonction : Auteur

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https://centralesupelec.hal.science/hal-00322077

Soumis le : mardi 16 septembre 2008-15:51:18

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:51

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00322077 , version 1 (16-09-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00322077 , version 1

Citer

A.S. Gudovskikh, Samah Ibrahim, Jean-Paul Kleider, J. Damon-Lacoste, Pere Roca I Cabarrocas, et al.. Determination of band offsets in a-Si:H/c-Si heterojunctions from capacitance-voltage measurements: capabilities and limits. Thin Solid Films, 2007, 515, pp.7481-7485. ⟨hal-00322077⟩

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