Comparison of optical and electrical gap of electrodeposited CuIn(S,Se)2 determined by spectral photo response and I–V–T measurements - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Thin Solid Films Année : 2007

Comparison of optical and electrical gap of electrodeposited CuIn(S,Se)2 determined by spectral photo response and I–V–T measurements

Arouna Darga
J.P. Connolly
J.-F. Guillemoles
D. Lincot
  • Fonction : Auteur
B. Canava
  • Fonction : Auteur
A. Etcheberry
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00322102 , version 1 (16-09-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00322102 , version 1

Citer

Zakaria Djebbour, Anne Migan-Dubois, Arouna Darga, Denis Mencaraglia, Cyril Bazin, et al.. Comparison of optical and electrical gap of electrodeposited CuIn(S,Se)2 determined by spectral photo response and I–V–T measurements. Thin Solid Films, 2007, 515, pp.6233-6237. ⟨hal-00322102⟩
106 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More