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Journal articles
New method for interface characterization in heterojunction solar cells based on diffusion capacitance measurements
A.S. Gudovskikh
Rémy Chouffot
1
Jean-Paul Kleider
1
N.A. Kaluzhniy
V. Lantratov
S.A. Mintairov
J. Damon-Lacoste
D. Eon
Pere Roca I Cabarrocas
P.J. Ribeyron
A.S. Gudovskikh
Author
Rémy Chouffot 1
Author
Jean-Paul Kleider 1
Author IdHAL : jean-paul-kleider ORCID : https://orcid.org/0000-0003-4388-6326
N.A. Kaluzhniy
Author
Pere Roca I Cabarrocas
Author
P.J. Ribeyron
Author
1
LGEP - Laboratoire de génie électrique de Paris (11 rue Joliot Curie Plateau de Moulon 91192 GIF SUR YVETTE CEDEX - France)
- UP11 - Université Paris-Sud - Paris 11 (Bâtiment 300 - 91405 Orsay cedex - France)
- UPMC - Université Pierre et Marie Curie - Paris 6 (4 place Jussieu - 75005 Paris - France)
- Ecole Supérieure d'Electricité - SUPELEC (FRANCE) (France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR8507 (France)
Document type :
Journal articles
Complete list of metadatas
https://hal-supelec.archives-ouvertes.fr/hal-00350881
Contributor : Olivier Schneegans <>
Submitted on : Wednesday, January 7, 2009 - 5:03:43 PM
Last modification on : Monday, December 14, 2020 - 12:28:40 PM
Contributor : Olivier Schneegans <>
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Last modification on : Monday, December 14, 2020 - 12:28:40 PM
Identifiers
- HAL Id : hal-00350881, version 1
Collections
CNRS | SUPELEC | UPMC | SUP_LGEP | SORBONNE-UNIVERSITE
Citation
A.S. Gudovskikh, Rémy Chouffot, Jean-Paul Kleider, N.A. Kaluzhniy, V. Lantratov, et al.. New method for interface characterization in heterojunction solar cells based on diffusion capacitance measurements. Thin Solid Films, Elsevier, 2008, 516, pp.6786. ⟨hal-00350881⟩
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