Etude par AFM à pointe conductrice du comportement mécanique et électrique de films nanométriques greffés

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Conference papers
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https://hal-supelec.archives-ouvertes.fr/hal-00351436
Contributor : Olivier Schneegans <>
Submitted on : Friday, January 9, 2009 - 11:42:28 AM
Last modification on : Wednesday, November 6, 2019 - 11:34:15 AM

Identifiers

  • HAL Id : hal-00351436, version 1

Citation

David Alamarguy, Sophie Noël, Alessandro Benedetto, M. Balog, P. Viel, et al.. Etude par AFM à pointe conductrice du comportement mécanique et électrique de films nanométriques greffés. 11èmes Journées de la Matière Condensée, Aug 2008, Strasbourg, France. pp.0. ⟨hal-00351436⟩

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