Mesures de capacité absolue par AFM à pointe conductrice: problématique et avancées récentes

Document type :
Conference papers
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https://hal-supelec.archives-ouvertes.fr/hal-00353331
Contributor : Olivier Schneegans <>
Submitted on : Thursday, January 15, 2009 - 2:07:55 PM
Last modification on : Friday, November 23, 2018 - 8:54:04 AM

Identifiers

  • HAL Id : hal-00353331, version 1

Citation

Ivan Estevez, Pascal Chrétien, Olivier Schneegans, Frédéric Houzé. Mesures de capacité absolue par AFM à pointe conductrice: problématique et avancées récentes. Journées du GDR Micro Nano Systèmes, Dec 2008, Montpellier, France. ⟨hal-00353331⟩

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