Comparative Study of Coil Arrangements for the EC Testing of Small Surface Breaking Defects - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Studies in Applied Electromagnetics and Mechanics Année : 2008

Comparative Study of Coil Arrangements for the EC Testing of Small Surface Breaking Defects

Cyril Ravat
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de génie électrique de Paris
Yann Le Bihan
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
Pierre-Yves Joubert
Claude Marchand
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV

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Soumis le : lundi 19 janvier 2009-17:11:27

Dernière modification le : mardi 7 novembre 2023-11:43:28

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Dates et versions

hal-00354401 , version 1 (19-01-2009)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00354401 , version 1

Citer

Cyril Ravat, Yann Le Bihan, Pierre-Yves Joubert, Claude Marchand. Comparative Study of Coil Arrangements for the EC Testing of Small Surface Breaking Defects. Studies in Applied Electromagnetics and Mechanics, 2008, 31, pp.288-293. ⟨hal-00354401⟩

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