Evaluating Properties of Graphene Sheets using Conductive Probe Atomic Force Microscopy

Fanny Hauquier; David Alamarguy; Sophie Noël; P. Viel

Communication Dans Un Congrès Année : 2009

Evaluating Properties of Graphene Sheets using Conductive Probe Atomic Force Microscopy

(1) , (1) , (1) ,

1

Fanny Hauquier

Fonction : Auteur

Laboratoire de génie électrique de Paris

David Alamarguy

Fonction : Auteur
PersonId : 6437
IdHAL : david-alamarguy
ORCID : 0000-0001-7617-3029
IdRef : 081093373

Laboratoire de génie électrique de Paris

Sophie Noël

Fonction : Auteur
PersonId : 17556
IdHAL : sophie-noel
IdRef : 081093446

Laboratoire de génie électrique de Paris

CV

P. Viel

Fonction : Auteur

Olivier Schneegans : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://centralesupelec.hal.science/hal-00445400

Soumis le : vendredi 8 janvier 2010-12:45:54

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:52

Dates et versions

hal-00445400 , version 1 (08-01-2010)

Identifiants

HAL Id : hal-00445400 , version 1

Citer

Fanny Hauquier, David Alamarguy, Sophie Noël, P. Viel. Evaluating Properties of Graphene Sheets using Conductive Probe Atomic Force Microscopy. MRS Fall Meeting, Nov 2009, Boston, United States. pp.K10.44. ⟨hal-00445400⟩

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