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Journal articles
Electronic and structural properties of the amorphous/crystalline silicon interface
Jean-Paul Kleider
1
Rémy Chouffot
1
A.S. Gudovskikh
Pere Roca I Cabarrocas
M. Labrune
P.J. Ribeyron
R. Brüggemann
Jean-Paul Kleider 1
Mail :
Author IdHAL : jean-paul-kleider ORCID : https://orcid.org/0000-0003-4388-6326
Rémy Chouffot 1
Author
A.S. Gudovskikh
Author
Pere Roca I Cabarrocas
Author
1
LGEP - Laboratoire de génie électrique de Paris (11 rue Joliot Curie Plateau de Moulon 91192 GIF SUR YVETTE CEDEX - France)
- UP11 - Université Paris-Sud - Paris 11 (Bâtiment 300 - 91405 Orsay cedex - France)
- UPMC - Université Pierre et Marie Curie - Paris 6 (4 place Jussieu - 75005 Paris - France)
- SUPELEC (France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR8507 (France)
Document type :
Journal articles
Complete list of metadatas
https://hal-supelec.archives-ouvertes.fr/hal-00445964
Contributor : Olivier Schneegans <>
Submitted on : Monday, January 11, 2010 - 4:16:19 PM
Last modification on : Wednesday, November 6, 2019 - 6:26:11 PM
Contributor : Olivier Schneegans <>
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Last modification on : Wednesday, November 6, 2019 - 6:26:11 PM
Identifiers
- HAL Id : hal-00445964, version 1
Collections
CNRS | SUPELEC | UPMC | SUP_LGEP | SORBONNE-UNIVERSITE
Citation
Jean-Paul Kleider, Rémy Chouffot, A.S. Gudovskikh, Pere Roca I Cabarrocas, M. Labrune, et al.. Electronic and structural properties of the amorphous/crystalline silicon interface. Thin Solid Films, Elsevier, 2009, 517, pp. 6386-6391. ⟨hal-00445964⟩
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