Non-destructive evaluation of small defects using an eddy current microcoil sensor array - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Sensor letters Année : 2009

Non-destructive evaluation of small defects using an eddy current microcoil sensor array

Cyril Ravat
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de génie électrique de Paris
Yann Le Bihan
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
Pierre-Yves Joubert
Claude Marchand
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV

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https://centralesupelec.hal.science/hal-00447228

Soumis le : jeudi 14 janvier 2010-15:39:41

Dernière modification le : mardi 7 novembre 2023-11:43:28

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Dates et versions

hal-00447228 , version 1 (14-01-2010)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00447228 , version 1

Citer

Cyril Ravat, Yann Le Bihan, Pierre-Yves Joubert, Claude Marchand. Non-destructive evaluation of small defects using an eddy current microcoil sensor array. Sensor letters, 2009, 7 (3), pp. 400-405. ⟨hal-00447228⟩

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