Resistive Switching Phenomena in LixCoO2 Thin Fillms - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Advanced Materials Année : 2011

Resistive Switching Phenomena in LixCoO2 Thin Fillms

Alec Moradpour
  • Fonction : Auteur
Sylvain Franger
Alexandre Revcolevschi
  • Fonction : Auteur
Raphaël Salot
  • Fonction : Auteur
Pascale Auban-Senzier
Claude Pasquier
  • Fonction : Auteur
Efthymios Svoukis
  • Fonction : Auteur
John Giapintzakis
  • Fonction : Auteur
Oana Dragos
  • Fonction : Auteur
Cristian Ciomaga
  • Fonction : Auteur

Résumé

A substantial resistive switching of LixCoO2 mixed-conductor thin films is observed for the first time. The occurrence of possible bipolar switching in these oxide thin films is by current-voltage curves, investigated by conducting-probe atomic force microscopy (CP-AFM). The films are incorporated into an {Au/LixCoO2/p++Si} device and exhibit a significant resistive-switching process involving a ratio of over four orders of magnitude.

Dates et versions

hal-00710602 , version 1 (21-06-2012)

Identifiants

Citer

Alec Moradpour, Olivier Schneegans, Sylvain Franger, Alexandre Revcolevschi, Raphaël Salot, et al.. Resistive Switching Phenomena in LixCoO2 Thin Fillms. Advanced Materials, 2011, 23 (36), pp.4141-4145. ⟨10.1002/adma.201101800⟩. ⟨hal-00710602⟩
72 Consultations
0 Téléchargements

Altmetric

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More