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Conference papers

Apport du microscope à force atomique pour l\'étude de certains phénomènes relatifs aux micro-contacts électriques

M Vincent S. W. Row C Poulain L Chiesi Frédéric Houzé 1 J Delamarre
1 CE - Equipe Contacts Electriques
LGEP - Laboratoire de génie électrique de Paris
Document type :
Conference papers
Complete list of metadata
https://hal-supelec.archives-ouvertes.fr/hal-00710617
Contributor : Olivier Schneegans <>
Submitted on : Thursday, June 21, 2012 - 11:28:12 AM
Last modification on : Thursday, June 17, 2021 - 3:47:02 AM

Identifiers

  • HAL Id : hal-00710617, version 1

Collections

CNRS | SUPELEC | UPMC | SUP_LGEP | SUP_CE | SORBONNE-UNIVERSITE | EC-PARIS

Citation

M Vincent, S. W. Row, C Poulain, L Chiesi, Frédéric Houzé, et al.. Apport du microscope à force atomique pour l\'étude de certains phénomènes relatifs aux micro-contacts électriques. Forum des Microscopies à Sonde Locale 2011, Mar 2011, Ecully, France. pp.88. ⟨hal-00710617⟩

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