M Vincent, S. W. Row, C Poulain, L Chiesi, Frédéric Houzé, et al.. Apport du microscope à force atomique pour l\'étude de certains phénomènes relatifs aux micro-contacts électriques.
Forum des Microscopies à Sonde Locale 2011, Mar 2011, Ecully, France. pp.88.
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