Apport du microscope à force atomique pour l\'étude de certains phénomènes relatifs aux micro-contacts électriques

M Vincent; S. W. Row; C Poulain; L Chiesi; Frédéric Houzé; J Delamarre

Conference papers

Apport du microscope à force atomique pour l\'étude de certains phénomènes relatifs aux micro-contacts électriques

M Vincent S. W. Row C Poulain L Chiesi Frédéric Houzé ¹ J Delamarre

1 CE - Equipe Contacts Electriques

LGEP - Laboratoire de génie électrique de Paris

Document type :

Conference papers

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https://hal-supelec.archives-ouvertes.fr/hal-00710617
Contributor : Olivier Schneegans <>
Submitted on : Thursday, June 21, 2012 - 11:28:12 AM
Last modification on : Monday, December 14, 2020 - 12:28:43 PM

Apport du microscope à force atomique pour l\'étude de certains phénomènes relatifs aux micro-contacts électriques

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