Influence of the amorphous/crystalline silicon heterostructure properties on planar conductance measurements - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2011

Influence of the amorphous/crystalline silicon heterostructure properties on planar conductance measurements

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00710775 , version 1 (21-06-2012)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00710775 , version 1

Citer

Renaud Varache, Wilfried Favre, Lars Korte, Jean-Paul Kleider. Influence of the amorphous/crystalline silicon heterostructure properties on planar conductance measurements. ICANS24, Aug 2011, Nara, Japan. ⟨hal-00710775⟩
32 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More