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ECOLE SUPÉRIEURE D'ÉLECTRICITÉ Une grande école d'ingénieurs au cœur des sciences de l'information,de l'énergie et des systèmes |
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Conference papers
Coil-to-sample distance influence on contactless QSSPC effective lifetime measurements : application to silicon wafers passivated by thin amorphous layers
Wilfried Favre
1
Laroussi Bettaieb
1
J. Després
José Alvarez
1
Jean-Paul Kleider
1
Yann Le Bihan
2
Zakaria Djebbour
1
Denis Mencaraglia
1
2
COCODI - Equipe Conception, Commande et Diagnostic
LGEP - Laboratoire de génie électrique de Paris
Wilfried Favre 1
Author
Laroussi Bettaieb 1
Author
J. Després
Author
José Alvarez 1
Author IdHAL : jose-alvarez ORCID : https://orcid.org/0000-0003-3558-8302
Jean-Paul Kleider 1
Author IdHAL : jean-paul-kleider ORCID : https://orcid.org/0000-0003-4388-6326
Yann Le Bihan 2
Author IdHAL : yann-le-bihan
Zakaria Djebbour 1
Author
Denis Mencaraglia 1
Author IdHAL : denis-mencaraglia
1
SCM - Equipe Semiconducteurs en Couches Minces (France)
- LGEP - Laboratoire de génie électrique de Paris (11 rue Joliot Curie Plateau de Moulon 91192 GIF SUR YVETTE CEDEX - France)
- UP11 - Université Paris-Sud - Paris 11 (Bâtiment 300 - 91405 Orsay cedex - France)
- UPMC - Université Pierre et Marie Curie - Paris 6 (4 place Jussieu - 75005 Paris - France)
- Ecole Supérieure d'Electricité - SUPELEC (FRANCE) (France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR8507 (France)
2
COCODI - Equipe Conception, Commande et Diagnostic (France)
- LGEP - Laboratoire de génie électrique de Paris (11 rue Joliot Curie Plateau de Moulon 91192 GIF SUR YVETTE CEDEX - France)
- UP11 - Université Paris-Sud - Paris 11 (Bâtiment 300 - 91405 Orsay cedex - France)
- UPMC - Université Pierre et Marie Curie - Paris 6 (4 place Jussieu - 75005 Paris - France)
- Ecole Supérieure d'Electricité - SUPELEC (FRANCE) (France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR8507 (France)
Document type :
Conference papers
Complete list of metadata
https://hal-supelec.archives-ouvertes.fr/hal-00710780
Contributor : Olivier Schneegans Connect in order to contact the contributor
Submitted on : Thursday, June 21, 2012 - 3:53:51 PM
Last modification on : Thursday, June 17, 2021 - 3:48:39 AM
Contributor : Olivier Schneegans Connect in order to contact the contributor
Submitted on : Thursday, June 21, 2012 - 3:53:51 PM
Last modification on : Thursday, June 17, 2021 - 3:48:39 AM
Identifiers
- HAL Id : hal-00710780, version 1
Collections
CNRS | UPMC | SUPELEC | SUP_LGEP | SUP_SCM | SUP_COCODI | SORBONNE-UNIVERSITE | EC-PARIS
Citation
Wilfried Favre, Laroussi Bettaieb, J. Després, José Alvarez, Jean-Paul Kleider, et al.. Coil-to-sample distance influence on contactless QSSPC effective lifetime measurements : application to silicon wafers passivated by thin amorphous layers. 26th EU PVSEC, Sep 2011, Hambourg, Germany. ⟨hal-00710780⟩
Metrics
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