Estimation théorique de la sévérité d'un défaut par un modèle analytique de la DKL

Jinane Harmouche 1 Claude Delpha 2 Demba Diallo 3
1 L2S - Laboratoire des signaux et systèmes
2 Division Signaux - L2S
L2S - Laboratoire des signaux et systèmes : 1289
3 COCODI - Equipe Conception, Commande et Diagnostic
LGEP - Laboratoire de génie électrique de Paris
Document type :
Conference papers
Complete list of metadatas
https://hal-supelec.archives-ouvertes.fr/hal-00823761
Contributor : Claude Delpha <>
Submitted on : Friday, May 17, 2013 - 10:39:20 PM
Last modification on : Friday, December 20, 2019 - 11:48:06 AM

Identifiers

  • HAL Id : hal-00823761, version 1

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Citation

Jinane Harmouche, Claude Delpha, Demba Diallo. Estimation théorique de la sévérité d'un défaut par un modèle analytique de la DKL. GRETSI 2013, Sep 2013, Brest, France. ⟨hal-00823761⟩

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