Estimation théorique de la sévérité d'un défaut par un modèle analytique de la DKL

Jinane Harmouche; Claude Delpha; Demba Diallo

Estimation théorique de la sévérité d'un défaut par un modèle analytique de la DKL

Jinane Harmouche ¹ Claude Delpha ² Demba Diallo ³

1 L2S - Laboratoire des signaux et systèmes

2 Division Signaux - L2S

L2S - Laboratoire des signaux et systèmes : 1289

3 COCODI - Equipe Conception, Commande et Diagnostic

LGEP - Laboratoire de génie électrique de Paris

Type de document :

Communication dans un congrès

GRETSI 2013, Sep 2013, Brest, France. 2013

Domaine :

Sciences de l'ingénieur [physics] / Traitement du signal et de l'image

Informatique [cs] / Traitement du signal et de l'image

Liste complète des métadonnées

https://hal-supelec.archives-ouvertes.fr/hal-00823761
Contributeur : Claude Delpha <>
Soumis le : vendredi 17 mai 2013 - 22:39:20
Dernière modification le : jeudi 22 novembre 2018 - 14:15:49

Estimation théorique de la sévérité d'un défaut par un modèle analytique de la DKL

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