Estimation théorique de la sévérité d'un défaut par un modèle analytique de la DKL

Jinane Harmouche; Claude Delpha; Demba Diallo

Estimation théorique de la sévérité d'un défaut par un modèle analytique de la DKL

Jinane Harmouche ¹ Claude Delpha ² Demba Diallo ³

1 L2S - Laboratoire des signaux et systèmes

2 Division Signaux - L2S

L2S - Laboratoire des signaux et systèmes : 1289

3 COCODI - Equipe Conception, Commande et Diagnostic

LGEP - Laboratoire de génie électrique de Paris

Document type :

Conference papers

Domain :

Engineering Sciences [physics] / Signal and Image processing

Computer Science [cs] / Signal and Image Processing

Complete list of metadatas

https://hal-supelec.archives-ouvertes.fr/hal-00823761
Contributor : Claude Delpha <>
Submitted on : Friday, May 17, 2013 - 10:39:20 PM
Last modification on : Tuesday, May 14, 2019 - 11:04:37 AM

Estimation théorique de la sévérité d'un défaut par un modèle analytique de la DKL

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