Marie-Estelle Gueunier-Farret, Jean-Paul Kleider, Christophe Longeaud, Sofia Gaiaschi. Caractérisation des défauts électriquement actifs de semiconducteurs en couches minces par la technique du photocourant modulé.
JNPV 2013, Dec 2013, Dourdan, France.
⟨hal-00931321⟩