Skip to Main content Skip to Navigation
Conference papers

Caractérisation des défauts électriquement actifs de semiconducteurs en couches minces par la technique du photocourant modulé

Document type :
Conference papers
Complete list of metadatas

https://hal-supelec.archives-ouvertes.fr/hal-00931321
Contributor : Thierry Leblanc <>
Submitted on : Wednesday, January 15, 2014 - 11:29:53 AM
Last modification on : Wednesday, September 16, 2020 - 5:43:38 PM

Identifiers

  • HAL Id : hal-00931321, version 1

Citation

Marie-Estelle Gueunier-Farret, Jean-Paul Kleider, Christophe Longeaud, Sofia Gaiaschi. Caractérisation des défauts électriquement actifs de semiconducteurs en couches minces par la technique du photocourant modulé. JNPV 2013, Dec 2013, Dourdan, France. ⟨hal-00931321⟩

Share

Metrics

Record views

81