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Conference papers

Caractérisation des défauts électriquement actifs de semiconducteurs en couches minces par la technique du photocourant modulé

Marie-Estelle Gueunier-Farret 1 Jean-Paul Kleider 1 Christophe Longeaud 1 Sofia Gaiaschi 1
1 SCM - Equipe Semiconducteurs en Couches Minces
LGEP - Laboratoire de génie électrique de Paris
Document type :
Conference papers
Complete list of metadata
https://hal-supelec.archives-ouvertes.fr/hal-00931321
Contributor : Thierry Leblanc Connect in order to contact the contributor
Submitted on : Wednesday, January 15, 2014 - 11:29:53 AM
Last modification on : Thursday, June 17, 2021 - 3:47:09 AM

Identifiers

  • HAL Id : hal-00931321, version 1

Collections

CNRS | SUPELEC | UPMC | SUP_LGEP | PHEMADIC | GEEPS | SORBONNE-UNIVERSITE | SUP_SCM | SU-SCIENCES | EC-PARIS

Citation

Marie-Estelle Gueunier-Farret, Jean-Paul Kleider, Christophe Longeaud, Sofia Gaiaschi. Caractérisation des défauts électriquement actifs de semiconducteurs en couches minces par la technique du photocourant modulé. JNPV 2013, Dec 2013, Dourdan, France. ⟨hal-00931321⟩

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