Caractérisation des défauts électriquement actifs de semiconducteurs en couches minces par la technique du photocourant modulé

Marie-Estelle Gueunier-Farret; Jean-Paul Kleider; Christophe Longeaud; Sofia Gaiaschi

Conference papers

Caractérisation des défauts électriquement actifs de semiconducteurs en couches minces par la technique du photocourant modulé

Marie-Estelle Gueunier-Farret ¹ Jean-Paul Kleider ¹ Christophe Longeaud ¹ Sofia Gaiaschi ¹

1 SCM - Equipe Semiconducteurs en Couches Minces

LGEP - Laboratoire de génie électrique de Paris

Document type :

Conference papers

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https://hal-supelec.archives-ouvertes.fr/hal-00931321
Contributor : Thierry Leblanc <>
Submitted on : Wednesday, January 15, 2014 - 11:29:53 AM
Last modification on : Wednesday, September 16, 2020 - 5:43:38 PM

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