Coplanar conductance measurements and modeling to characterize surface passivation of c-Si wafers by a-Si:H - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2013

Coplanar conductance measurements and modeling to characterize surface passivation of c-Si wafers by a-Si:H

Igor P. Sobkowicz
  • Fonction : Auteur
Parsathi Chatterjee
  • Fonction : Auteur
Marie-Estelle Gueunier-Farret
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
Antoine Salomon
  • Fonction : Auteur
Jean-Paul Kleider
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
P. Roca I Cabarrocas
  • Fonction : Auteur

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https://centralesupelec.hal.science/hal-00931340

Soumis le : mercredi 15 janvier 2014-11:29:55

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:58

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00931340 , version 1 (15-01-2014)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00931340 , version 1

Citer

Igor P. Sobkowicz, Parsathi Chatterjee, Marie-Estelle Gueunier-Farret, Antoine Salomon, Jean-Paul Kleider, et al.. Coplanar conductance measurements and modeling to characterize surface passivation of c-Si wafers by a-Si:H. EUPVSEC 2013, Sep 2013, Paris, France. pp.1680 - 1685. ⟨hal-00931340⟩

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