Characterization of a 3D defect using the Expected Improvement algorithm

Abstract : This paper provides a new methodology for the characterization of a defect embedded in a conductive non-magnetic plate from the measurement of the impedance vari-ations of an air-cored pancake coil at eddy current frequen-cies. The inversion problem is dealt with using the Expected Improvement (EI) global optimization algorithm. The effi-ciency of the approach is discussed in the light of preliminary numerical examples obtained using synthetic data.
Type de document :
Communication dans un congrès
IGTE 2008, Sep 2008, Graz, Austria. Proceedings of the 13th International IGTE Symposium on Numerical Field Calculation in Electrical Engineering
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https://hal-supelec.archives-ouvertes.fr/hal-01104089
Contributeur : Marc Lambert <>
Soumis le : vendredi 16 janvier 2015 - 10:11:26
Dernière modification le : jeudi 5 avril 2018 - 12:30:05
Document(s) archivé(s) le : vendredi 11 septembre 2015 - 06:53:56

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  • HAL Id : hal-01104089, version 1

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Sandor Bilicz, Emmanuel Vazquez, Marc Lambert, Szabolcs Gyimothy, Jozsef Pavo. Characterization of a 3D defect using the Expected Improvement algorithm. IGTE 2008, Sep 2008, Graz, Austria. Proceedings of the 13th International IGTE Symposium on Numerical Field Calculation in Electrical Engineering. 〈hal-01104089〉

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