Experimental Bifurcation Diagram and Terminal Voltage Change of an External-cavity Semiconductor Laser - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2014

Experimental Bifurcation Diagram and Terminal Voltage Change of an External-cavity Semiconductor Laser

Byungchil Kim
  • Fonction : Auteur
Nianqiang Li
  • Fonction : Auteur
A. A Sahai
  • Fonction : Auteur
A. Locquet
D. S Citrin
  • Fonction : Auteur

Résumé

We present for the first time experimental bifurcation diagrams of an externalcavity semiconductor laser using the photodetected optical intensity and the laser diode terminal voltage and interpret them on the basis of the Lang and Kobayashi model.
Fichier principal
Vignette du fichier
Bif and Voltage Change_QELS_2014.pdf (127.46 Ko) Télécharger le fichier
Origine : Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

Dates et versions

hal-03085265 , version 1 (21-12-2020)

Identifiants

Citer

Byungchil Kim, Nianqiang Li, A. A Sahai, A. Locquet, D. S Citrin. Experimental Bifurcation Diagram and Terminal Voltage Change of an External-cavity Semiconductor Laser. CLEO: Applications and Technology, 2014, San Jose, United States. pp.JW2A.105, ⟨10.1364/CLEO_AT.2014.JW2A.105⟩. ⟨hal-03085265⟩
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