Chapitre D'ouvrage
Année : 2005
Chahla Domenget : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00148988
Soumis le : jeudi 24 mai 2007-08:54:31
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:18:28
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00148988 , version 1
Citer
S. Cristoloveanu. Review of Radiation Effects in Single and Multiple-Gate SOI MOSFETs. Review of Radiation Effects in Single and Multiple-Gate SOI MOSFETs, Kluwer Academic Publishers, pp.197-214, 2005. ⟨hal-00148988⟩
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